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Bristol 激光光譜分析儀及高精度波長(zhǎng)計(jì) 771系列
Bristol 671系列 高精度激光光譜分析儀及高精度波長(zhǎng)計(jì)
緊湊型斐索波長(zhǎng)計(jì) 350-1120nm (用于鎖模激光器以及動(dòng)態(tài)范圍掃描)
YOGOKAWA橫河高精度激光波長(zhǎng)計(jì) 900-1700nm
Bristol 871系列 激光波長(zhǎng)計(jì) 0.375-2.5um (波長(zhǎng)精度0.0001nm)
快速波長(zhǎng)計(jì) 1250-1650nm (182-240THz)
緊湊型波長(zhǎng)計(jì) 450-950nm 1kHz 分辨率2pm
用于晶圓的極向克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) BH-810CPC25
用于晶圓的縱向克爾效應(yīng)量測(cè)系統(tǒng) BH-618SK
基于激光的GHz聲波振動(dòng)觀測(cè)系統(tǒng) MLD-101系列
克爾環(huán)路測(cè)量和域觀測(cè)系統(tǒng) BH-1071 系列
微型克爾環(huán)路測(cè)量系統(tǒng) BH-PI920 系列
垂直磁記錄介質(zhì)評(píng)價(jià)體系 BH-810CPC 系列
軟磁層評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-618HS-P20 系列
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計(jì)量學(xué) 無損亞納米級(jí)次表面成像)
熱輔助磁記錄介質(zhì)的非接觸HAMR/TAMR評(píng)估系統(tǒng) BH-802HM
垂直磁各向異性評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-R810
用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡 三豐Mitutoyo FS70
光學(xué)/全激光測(cè)振儀 可選1000倍變焦數(shù)字顯微鏡
1060±60nm MZI 干涉儀 (InGaAs平衡探測(cè)器 帶寬1GHz)
Mach-Zehnder干涉儀 800-1700nm(就是MBD系列,重復(fù),下架)
Fiz3D 面型干涉儀 (VICT技術(shù) 1nm重復(fù)精度 1秒測(cè)量0.6米工件 觸摸屏操作)
水聽器用法拉第旋轉(zhuǎn)鏡邁克爾遜干涉儀 1310/1550nm
Michelson 邁克爾遜PLX 單片干涉儀(NIR近紅外 FTIR紅外 )
法布里-珀羅(F-P)干涉儀/標(biāo)準(zhǔn)具 2.5-14um/1.3-2.0um
Iridian 50GHz 自由空間FP標(biāo)準(zhǔn)具 1520-1620nm
帶尾纖的Fabry-Perot標(biāo)準(zhǔn)具
Mark標(biāo)記型熱穩(wěn)定標(biāo)準(zhǔn)具
Beam On WSR光斑分析儀 190-1600nm (最大幀速25Hz)
WinCamD-IR-BB 中遠(yuǎn)紅外光束質(zhì)量分析儀 2-16μm 7.5Hz
BeamOn 光束質(zhì)量分析儀,光斑分析儀 190-1310nm/1550nm
DUMA BeamAnalyzer 刀口型光斑分析儀(光束質(zhì)量分析儀) 190-1100nm/1200-2700nm
Duma BeamOn U3-VIS NIR光束位置分析儀 350–1600nm (光斑分析儀)
1um高分辨率光束質(zhì)量分析儀 350-1310nm
DUMA M2 Beam U3光束質(zhì)量分析儀 350–1350nm
DUMA 光束分析儀 BeamOn HR 1 Inch (UV to 1350nm)
WinCamD-QD 量子點(diǎn)短波紅外相機(jī)型光束質(zhì)量分析儀(輪廓儀)
BeamOn LA 強(qiáng)脈沖光及大尺寸激光光斑分析儀 VIS-NIR 350-1310nm
WinCamD-LCM系列 1" CMOS 相機(jī)型光束質(zhì)量分析儀
TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機(jī)型光束質(zhì)量分析儀 355-1150nm
BladeCam2-HR/XHR系列 CMOS 光斑分析儀(光束輪廓分析相機(jī)) 190-1605nm
Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR)
YOKOGAWA 橫河 AQ6375E 2um 長(zhǎng)波長(zhǎng)光譜分析儀1200-2400nm / 1000-2500nm (NIR/SWIR)
Wasatch Photonics Cobra 1300系列 OCT 短波紅外光譜儀 950-1450nm
LASNIX L-FTS 緊湊型片層紅外光譜儀 0.4-300um
橫河 AQ6376 長(zhǎng)波長(zhǎng)光譜分析儀 1500~3400nm (停產(chǎn) 代替型號(hào)為AQ6376E)
SRS1-vis可見光 空間分辨率光譜儀 380-780 nm
橫河光譜分析儀AQ6360/AQ6380 (1200-1650 nm)
橫河 AQ6373B短波長(zhǎng)光譜分析儀 350-1200nm
橫河AQ6377 MWIR中波紅外光譜分析儀（1900 ~ 5500nm）
YOKOGAWA 橫河 AQ6373E 可見波長(zhǎng)光譜分析儀 350-1200nm(波長(zhǎng)精度±0.05nm 動(dòng)態(tài)范圍60dB)
RS15k 緊湊型高分辨率近紅外中階梯光柵光譜儀 950-1650nm
Redback RS40k 寬光譜高分辨率中階梯光柵光譜儀 430-950nm
RS10k 超緊湊高分辨率中階梯光柵光譜儀 450-1030nm
光學(xué)相干斷層成像系統(tǒng)（OCT） 高分辨率，大成像深度、高成像速度 840-1310nm
GouMax全波段小型化光譜儀(OSA)模塊 1260-1650nm
GouMax，C+L波段光譜儀(OSA)模塊 1525-1615nm
2um 光譜分析儀 (波長(zhǎng)精度0.08nm 波長(zhǎng)分辨率0.2nm)
YOKOGAWA 橫河 AQ6374E 寬范圍光譜分析儀 350-1750nm (VIS及光通信波段)
INCUS接收管太陽能分光光度計(jì) (14 個(gè)波長(zhǎng)測(cè)量 紅外和可見光365-1950nm)
CONDOR便攜式高精度太陽能反射率計(jì) 10s級(jí) (用于聚光太陽能發(fā)電廠)
OBR 5T-50 背光反射計(jì) (8.5m或16m測(cè)量長(zhǎng)度 適用生產(chǎn)線)
OBR 4200 便攜式背光反射計(jì) (最大測(cè)量500m 用于外場(chǎng)施工)
OBR 4600背光反射計(jì) O、C和L波段 (2000m測(cè)量長(zhǎng)度 10um空間分辨率 適用實(shí)驗(yàn)室)
光矢量分析儀 ?Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 損耗、色散和偏振測(cè)量?jī)x)
OBR 6225/6235 背光反射計(jì) 1546.7nm (測(cè)試長(zhǎng)度20-500m)
ZD1 Series Z Stage 模塊化精密運(yùn)動(dòng)平臺(tái)
IXY 系列雙軸高精密運(yùn)動(dòng)平臺(tái)
三維容積標(biāo)定,坐標(biāo)測(cè)量機(jī),具有6自由度采集的3D體積校準(zhǔn) 坐標(biāo)測(cè)量機(jī),機(jī)床,調(diào)整系統(tǒng)
dataray M2測(cè)量系統(tǒng) (M2 載物平移臺(tái)200mm 相機(jī) 支架)
IXY100CA 雙軸中空運(yùn)動(dòng)平臺(tái)
XC050BS 可堆疊式 X / Z 運(yùn)動(dòng)臺(tái)
XYT450 精密運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)
Z010 音圈電機(jī)模組 運(yùn)動(dòng)臺(tái)
Z030 音圈電機(jī)模組運(yùn)動(dòng)臺(tái)
營(yíng)業(yè)執(zhí)照
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